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Andor Netwon SO系列光谱CCD探测器,专门针对X射线、极紫外、真空紫外光谱探测而设计。采用BN、FI或者DD系列芯片来满足不同波段的探测需求。相机采用6英寸可旋转刀口CF152真空法兰,可轻易安装到真空腔或...
 
Andor SX系列真空腔内式光谱CCD探测器,采用背感光、前感光以及深耗尽型CCD芯片可以对软X射线到真空紫外波段的光子进行直接探测。芯片规格主要有1024*256以及2048*512两种。为了保证探测的灵敏度,CCD...
产品名称:腔外X射线及真空紫外光谱CCD探测器
产品型号: DO920P/940P
产品品牌: Andor

Andor Netwon SO系列光谱CCD探测器,专门针对X射线、极紫外、真空紫外光谱探测而设计。采用BN、FI或者DD系列芯片来满足不同波段的探测需求。相机采用6英寸可旋转刀口CF152真空法兰,可轻易安装到真空腔或者真空单色仪上使用。
主要特点:
  • 6寸CF152刀口真空法兰
  • 更高读出速度,信号采集速度更高
  • 半导体制冷温度-100度,更低的噪声
  • 13.5um像元,更高的分辨率
  • Crop mode读出模式,每秒高达上千帧的采集速度
  • USB2.0数据接口
  • 集成滤光片卡槽
技术参数:
 
芯片类型 DO920 DO940
有效像素 1024 x 255 2048 x 512
像元尺寸 26 x 26 μm 13.5 x 13.5 μm
探测面尺寸 27.6 x 6.9
最低制冷温度 -100°C
光谱采集速度 1612幅每秒
读出噪声 2.8e-
暗噪声 最低0.000007e-/s/pixel
产品名称:腔内式X射线及真空紫外光谱CCD
产品型号: DX420/440
产品品牌: Andor


Andor SX系列真空腔内式光谱CCD探测器,采用背感光、前感光以及深耗尽型CCD芯片可以对软X射线到真空紫外波段的光子进行直接探测。芯片规格主要有1024*256以及2048*512两种。为了保证探测的灵敏度,CCD探测器同样采用半导体深度制冷,制冷温度最低可达-70°C。真空度可支持10-5mbar及更低。
主要特点:
真空环境下使用:可放置在真空腔内,便于调节CCD与信号源之间的距离,优化探测距离。
高量子效率探测器:峰值量子效率高达95%
高强度封装信号线:电源线及PCI信号线采用高强度密封,能够很好的在真空等特殊环境下稳定工作。
集成滤光片卡槽:方便直接安装各种实验需要的滤光片
半导体深度制冷:保证探测灵敏度
主要技术参数:
 
芯片类型 DX420 DX420”DD” DX440
有效像素 1024 x 255 1024 x 256 2048 x 512
像素尺寸 26 x 26 μm 26 x 26 μm 13.5 x 13.5 μm
探测面尺寸 26.6 x 6.7 mm 26.6 x 6.7 mm 27.6 x 6.9 mm
满井容量 100,000 e- 140,000 e- 600,000 e-
最低制冷温度 -70°C 
读出噪声@1MHz 18 18 7
真空度 10-5mbar及以下

 

 

 

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