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一、铂电阻测温元件类型 • 薄膜铂电阻: 用真空沉积的薄膜技术把铂溅射在陶瓷基片上,膜厚在 2μm以内,用玻璃烧结料把Ni (或Pd)引线固定,经激光调阻制成薄膜元件。 • 薄膜铂电阻系列
二、性能和参数 • 铂电阻元件的温度系数 TCR TCR=R 100 -R 0 / R 0 ×100 其中 R 100 在100℃时的电阻值 R 0 在0℃时的电阻值 我们提供符合 IEC751标准的TCR=0.003851的铂电阻元件,此外,我们也可为客户提供其它温度系数的电阻元件,如TCR=0.003750等。 • 铂电阻元件的温度-电阻特性 R T =R 0 [1+aT-bT 2 -cT 3 (T-100)] R T 在温度T时的电阻值 R 0 在零度时的电阻值 a b c 系数 TCR=0.003851时的系数
• 铂电阻元件的误差
• 铂电阻元件的稳定性 铂电阻元件有良好的长期稳定性,例如 CRZ-1632在400℃时持续300小时,0℃时的最大温度漂移仅为0.02℃。 • 铂电阻元件的热响应时间
• 铂电阻元件的自热和测试电流 铂电阻元件的测试电流不应超过允许值,例如 CRZ-1632元件装在没有任何填充物的ф8mm保护管内,保护管设在0 ℃的搅拌水中,当测试电流为 1 mA时,温升为0.05℃;当测试电流为5 mA时,温升为2.2℃。 • 铂电阻元件的自热系数
• 温度-阻值表
三、使用 CRZ薄膜元件的注意事项: • 直接使用元件或制成温度传感器测温时,避免超过测温量程,短时间内虽不会损坏亦影响产品寿命。 • 用 CRZ元件组装温度传感器时,在使用高温固化环氧灌封时,应注意其在固化的过程中应力的变化过程,否则可能损坏元件(一般为开路)°在使用氧化镁或氧化铝充填过程中,应避免元件直接接触尖锐的内表面,否则在振动过程中,有可能使元件的瓷片边缘破损,造成元件开路损坏。 • 在制做温度传感器时,必须保证灌封材料的高度绝缘性能,否则会导致产品的电气绝缘性能降低,并且影响元件的零度测试数据,一般会导致 R 0 偏低。 |
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